仪器：Galaxy TA Plus全功能国产质构仪
测试模式：单次下压测试
测试前速度：1.5mm/s

测试速度：1.5mm/s
测试后速度：10mm/s
测试距离：5mm
去皮模式：自动
探头：针形探头 
感应元：5KG优质高感应元

中锦仪器为Galaxy TA Plus 量身打造探头与夹具。除了标准探头与夹具，中锦仪器可为客户量身定制的特殊应用方案需要的探头与夹具。迄今为止，中锦仪器储备有超过400种的特殊应用方案的配套探头，基本涵盖各行各业的使用需求。